RFID綜合測(cè)試儀T8200UD是針對(duì)近場非接觸式IC卡、天線(基于ISO/IEC14443 Type A, Type B, ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡),以及非接觸IC卡(ISO/15693Tag-It, I-CODE SLI), IC標(biāo)簽的共振頻率,Q值和插入損耗(insertion loss)進(jìn)行檢測(cè),根據(jù)設(shè)定值判定待測(cè)物PASS/FAIL的設(shè)備。
檢測(cè)頻率: 500KHz ~ 300MHz
測(cè)定項(xiàng)目: 不同的制品,通過制作對(duì)應(yīng)的檢測(cè)天線,可以檢查各式制品
○ 共振頻率 ○非接觸式IC卡
○ 衰減量 ○NFC搭載的制品
○ Q值 ○著裝芯片之前的RFID天線
通過設(shè)定各個(gè)待測(cè)項(xiàng)目的設(shè)定值進(jìn)行檢測(cè),并可以通過保存測(cè)量特性波形及測(cè)定值,管理RFID產(chǎn)品的品質(zhì)。