配備具有0.0001°小步進(jìn)的高精度樣品水平型測(cè)角儀。根據(jù)分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（大350mmφ樣品）和通用的S型。
XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀，能夠測(cè)定超大型樣品。
不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析，還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過(guò)追加附件，還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過(guò)程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。
利用新開(kāi)發(fā)的大型R-θ樣品臺(tái)，可以進(jìn)行大350mmφ樣品全表面的自動(dòng)應(yīng)力成圖測(cè)定
采用強(qiáng)大的多毛細(xì)管平行光束系統(tǒng)，可對(duì)應(yīng)凹凸不同的樣品的分析，擴(kuò)大應(yīng)用范圍。

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